• IMS易姆斯5620-030-A009 B201 C301
  IMS5400-TH 白光干涉儀：采用白光干涉技術，可實現納米級精確厚度測量和多層厚度測量。測量范圍廣，氣隙測量（折射率～1）為 50µm 至 2.1 毫米，玻璃厚度測量（折射率～1.5）為 35µm 至 1.4 毫米。具有高速測量速率，最高可達 6kHz，且測量不受距離影響，即使是移動物體也能獲得穩定的納米級精確厚度值。其傳感器堅固緊湊，配有高度靈活的光纖電纜，電纜長度可達 10 米，控制器可通過 DIN 導軌安裝在控制柜中，可通過 web 界面輕松配置，無需安裝額外軟件。

  IMS5200-TH 白光干涉儀：專為快速、高精度在線測量而設計，可測量 1 至 100µm 的涂層厚度，精度達納米級，線性度 <±100nm，還可對多達五層的薄層進行多峰測量。測量速率可在 100Hz 至 24kHz 之間連續調整。傳感器和控制器在工廠進行協調和校準，具有緊湊堅固的設計，工作范圍為 ±2mm，可輕松集成到狹窄的生產線中。控制器防護等級為 IP40，傳感器防護等級為 IP65，適用于工業環境，也可在潔凈室和真空等特殊環境中使用。

XR SSMC 多通道厚度輪廓測量系統：采用 X 射線測量技術，可連續實時測量帶材厚度和厚度橫截面輪廓。其 C 型框架配備一系列分段，每個分段由上梁中的輻射源和下梁中與寬度相關數量的探測器組成，形成測量通道。該系統可測量的厚度范圍可達 3000mm，還可測量寬度和中心線偏差，計算楔形和凸度值，具有測量速度快、穩定性好等特點，適用于熱軋廠等場景。

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